崎岖温试验属于气候类情况可靠性试验中比较常见的检验项目之一，崎岖温试验首要模仿干热和干冷大气情况，如夏天的天热，冬季的天冷。崎岖温试验首要考核产品在作业状态下或贮存状态下产品的功用功用是否爆发降低和改动，首要考核产品的崎岖温耐受本领。

试验内容：
低温事情、低温贮存、高温事情、高温贮存、低温启动、高温启动、崎岖温循环、温度攻击、高温寿命、高温老化等。
 
崎岖温试验是用来认可产品在温湿度气候情况条件下贮存、运送、运用的适应性。
崎岖温试验的严苛水平取决于高/低温、湿度和曝露继续时间。
 
崎岖温可靠性试验效劳领域：
崎岖温试验箱用于工业产品高、低温的可靠性试验。对电子电工、轿车摩托、航飞系统、船只武器、高等院校、科研单位等相关产品的零部件及资料在高、低温循环改动的情况下，检验其各项功用指标。
 
崎岖温试验要领：
预处理：将被测样品安排在正常的试验大气条件下，直至抵达温度稳定。
开端检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入崎岖温试验箱。
 
样品断电时，试验样品应按标准要求安排在试验箱内，试验箱（室）内温度应降至-50℃，坚持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这一步很是重要，因为芯片自己在通电状态下会爆发20℃因此，在通电状态下，通常更容易通过低温试验，须先冻透，再通电试验。
 
在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调解的样品90℃坚持在高温试验箱（室）内4h或者直到测试样品抵达温度稳定，与低温测试相反，加热历程不绝电，芯片内部温度坚持高温，4小时后执行A、B测试办法。
进行老化测试，视察是否保存数据比照过失。
高温和低温试验划分重复10次。
重复上述实验要领，以完成三个循环。凭据样品的巨细和空间的巨细，时间可能略有误差。

恢复：试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢复，直至试验样品抵达温度稳定。
实验室制度凭据CNAS授权检测规模基础标准GB/T 2423.1-2008《电工电子产品情况试验 第 2 部分：试验要领 试验 A：低温》 和 GB/T 2423.2-2008《电工电子产品情况试验 第 2 部分：试验要领 试验 B：高温》标准进行崎岖温事情、崎岖温贮存、干冷干热、温度变革、高温老化、高温寿命、崎岖温耐受性试验技术效劳，出具带有CNAS、CMA第三方检测报告。
 
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