温度循环作为自然情况的模拟，可以考核产品在差别情况条件下的适应能力，常用于产品在开发阶段的型式实验、元器件的选择实验，可以说是电器产品做可靠性检验的一步很是重要的检测。
 
　　一、温度循环实验：
　　在产品的生命周期中，可能面临种种情况的条件下，使得产品在软弱的部份显现出来，组成产品的损伤或失效，然后影响到产品的可靠度。

 
　　二、温度循环实验的意图：
　　确定元件情况温度灵敏改变的能力，制止产品因情况而失效。
　　电容温度循环实验；
　　温度攻击循环实验情况；
　　温度：25℃±5℃；
　　湿度：百分之25~百分之85；
      大气压力：86KPa~106KPa。
 
　　三、温度攻击循环实验标准：
　　GB/T34870.1 电容第 1部分：标准；
       IEC62391-1电子及电气设备用牢固式双层电容器第 1部分：总标准。
 
　　四、温度攻击循环实验要领：
　　1.在情况温度下丈量超ji电容的电容、储能能 量和内阻；
　　2.对超 级电容单体以恒定电流I充电至额定电压；
　　3.将超 级电容单体在室温下稳定后放入恒温恒湿实验箱中，箱体温度按以下要求进行调解，温度攻击循环次数30次；
　　1）温度25℃，时间增量0min，累计时间0min；
　　2）温度-40℃，时间增量60min，累计时间60min；
　　3）温度-40℃，时间增量90min，累计时间150min；
　　4）温度25℃，时间增量60min，累计时间210min；
　　5）温度85℃，时间增量90min，累计时间300min；
　　6）温度85℃，时间增量110min，累计时间410min；
　　7）温度25℃，时间增量70min，累计时间480min；
      4.视察1h；
 
　　五、温度攻击循环检验判定；
　　实验历程中，样品应制止爆 炸、不起火、不漏液。
 
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